{"id":1535,"date":"2008-04-19T20:20:21","date_gmt":"2008-04-19T18:20:21","guid":{"rendered":"http:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/instytut-materialoznawstwa-i-mechaniki-technicznej\/badania-naukowe\/laboratoria\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-dczt\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-oferta\/"},"modified":"2014-11-08T16:32:06","modified_gmt":"2014-11-08T15:32:06","slug":"laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-oferta","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/instytut-materialoznawstwa-i-mechaniki-technicznej\/badania-naukowe\/laboratoria\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-dczt\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-oferta\/","title":{"rendered":"Laboratorium Materia\u0142\u00f3w Zol-\u017belowych i Nanotechnologii &#8212; Oferta"},"content":{"rendered":"<h3>System do pomiaru porowato\u015bci ASAP 2020 firmy Micromeritics<\/h3>\n<p>System do pomiaru porowato\u015bci ASAP 2020 umo\u017cliwia przeprowadzenie pomiar\u00f3w powi\u0105zanych z porowato\u015bci\u0105 charakterystyk, takich materia\u0142\u00f3w jak proszki oraz cia\u0142a sta\u0142e.<\/p>\n<p>Aparat ASAP 2020 umo\u017cliwia pomiar:<\/p>\n<ul>\n<li>dyspersji krystalit\u00f3w metali;<\/li>\n<li>wielko\u015b\u0107 powierzchni aktywnej metali;<\/li>\n<li>rozmiar cz\u0105stek aktywnych;<\/li>\n<li>kwasowo\u015b\u0107 powierzchni materia\u0142\u00f3w katalitycznych<\/li>\n<\/ul>\n<p>Dost\u0119pne opcje:<\/p>\n<ol>\n<li>Opcja mikropor\u00f3w &#8211; dostarcza dane na temat por\u00f3w o \u015brednicy od 0,35 do 3 nm, uzyskujemy jednocze\u015bnie wyczerpuj\u0105ce raporty o w\u0142a\u015bciwo\u015bciach badanego materia\u0142u. Badaj\u0105c materia\u0142 uzyskujemy nast\u0119puj\u0105ce izotermy: BET, Langmuira, Dubinin-Radushkevich (D-R), Dubinin-Astakhov (D-A), Horvath-Kawazoe (H-K), H-K z korekt\u0105 Cheng &amp; Yang dla por\u00f3w szczelinowych, H-K z modelem Saito &amp; Foley model dla por\u00f3w cylindrycznych<\/li>\n<li>Opcja high-vac &#8211; umo\u017cliwia przy niskim ci\u015bnieniu pomiary stosunkowo ma\u0142ych powierzchni pr\u00f3bek. Stosuje si\u0119 tutaj krypton jako adsorbent.<\/li>\n<li>Opcja chemisorpcji &#8211; umo\u017cliwia uzyskanie charakterystyki materia\u0142\u00f3w katalitycznych. Chemi System automatycznie okre\u015bla: aktywn\u0105 powierzchni\u0119 metalu dyspersj\u0119 krystalit\u00f3w rozmiary krystalit\u00f3w energi\u0119 (ciep\u0142o) adsorpcji chemicznej izoterm\u0119 silnej (nieodwracalnej) i s\u0142abej (odwracalnej) adsorpcji chemicznej<\/li>\n<\/ol>\n<p>Materia\u0142y, kt\u00f3re mog\u0105 by\u0107 badane:<\/p>\n<ul>\n<li>preparaty farmaceutyczne,<\/li>\n<li>ceramika,<\/li>\n<li>w\u0119giel aktywny,<\/li>\n<li>farby i pow\u0142oki,<\/li>\n<li>katalizatory,<\/li>\n<li>implanty medyczne,<\/li>\n<li>materia\u0142y stosowane w elektronice,<\/li>\n<li>ogniwa paliwowe,<\/li>\n<li>pociski wojskowe,<\/li>\n<li>kosmetyki,<\/li>\n<li>nanorurki<\/li>\n<\/ul>\n<h3>Porozymetr rt\u0119ciowy AutoPore IV firmy Micromeritics<\/h3>\n<p>AutoPore IV Series umo\u017cliwia pomiar:<\/p>\n<ul>\n<li>dystrybucja rozmiar\u00f3w por\u00f3w (0,0055 \u2013 360 \u03bcm);<\/li>\n<li>ca\u0142kowita obj\u0119to\u015b\u0107 por\u00f3w;<\/li>\n<li>u\u015bredniona \u015brednica por\u00f3w;<\/li>\n<li>g\u0119sto\u015b\u0107 pr\u00f3bki (struktura przestrzenna)<\/li>\n<\/ul>\n<p>Parametry raportowane:<\/p>\n<ul>\n<li>Mayer-Stowe Particle Size (raport nt. sferycznego sk\u0142adu granulometrycznego)<\/li>\n<li>Pore Tortuosity (charakterystyka skuteczno\u015bci dyfuzji p\u0142yn\u00f3w w materia\u0142 porowaty)<\/li>\n<li>Material Compressibility (okre\u015blenie kolapsy lub \u015bci\u015bliwo\u015bci badanego materia\u0142u)<\/li>\n<li>Pore Numer Fraction (raport nt. liczby por\u00f3w w poszczeg\u00f3lnych klasach wielko\u015bci)<\/li>\n<li>Pore-throat Ratio (raport nt. stosunku por\u00f3w cylindrycznych do por\u00f3w szczelinowych)<\/li>\n<li>Pore Fractal Dimensions (okre\u015blenie geometrii fraktalnej badanego materia\u0142u)<\/li>\n<li>Permeability (raport o zdolno\u015bci pr\u00f3bki do przepuszczania p\u0142yn\u00f3w)<\/li>\n<\/ul>\n<p>Materia\u0142y, kt\u00f3re mog\u0105 by\u0107 badane: preparaty farmaceutyczne, ceramika, adsorbenty, katalizatory, papier, implanty medyczne, materia\u0142y stosowane w elektronice, przestrze\u0144 powietrzn\u0105, ogniwa paliwowe, materia\u0142y stosowane w filtracji, materia\u0142y konstrukcyjne<\/p>\n<h3>Proszkowy dyfraktometr rentgenowski Ultima IV firmy Rigaku<\/h3>\n<p>Wielofunkcyjny, automatyczny dyfraktometr proszkowy Ultima IV wyposa\u017cony w system optyki CBO (Cross Beam Optics), opatentowany przez firm\u0119 Rigaku. Justowanie optyki, niezale\u017cnie od aplikacji odbywa si\u0119 automatycznie przy u\u017cyciu siedmiu nap\u0119d\u00f3w sterowanych z komputera. Ultima IV jest wyposa\u017cona w goniometr theta\/theta o promieniu 285 mm i minimalnym kroku 0,0001 stopnia. Unikalna optyka CBO pozwala na szybk\u0105 zmian\u0119 aplikacji dyfraktometru poprzez szybk\u0105 zmian optyki z ogniskuj\u0105cej na r\u00f3wnoleg\u0142\u0105. Przyrz\u0105d ten umo\u017cliwiaj\u0105 badania szerokiego zakresu materia\u0142\u00f3w w postaci cia\u0142 sta\u0142ych i ciek\u0142ych, takich jak: metale, minera\u0142y, polimery, katalizatory, plastiki, farmaceutyki, materia\u0142y cienkowarstwowe, ceramika, p\u00f3\u0142przewodniki, etc.<\/p>\n<p>Mo\u017cliwo\u015bci badawcze:<\/p>\n<ul>\n<li>Pomiar sta\u0142ej sieciowej (wyznaczenie parametr\u00f3w sieci struktury krystalicznej badanych pr\u00f3bek metod\u0105 dyfrakcji promieni rentgenowskich). Badanie mi\u0119dzy innymi zmian strukturalnych w roztworach sta\u0142ych.<\/li>\n<li>Jako\u015bciowa analiza fazowa (przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest identyfikacja sk\u0142adu fazowego metod\u0105 dyfrakcji promieni rentgenowskich). Wynik analizy zawiera opis zidentyfikowanych faz krystalicznych oraz dyfraktogram zestawiony z modelami dyfraktogram\u00f3w zidentyfikowanych faz uzyskanymi z bazy danych struktur krystalicznych ICDD.<\/li>\n<li>Ilo\u015bciowa analiza fazowa (przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest ilo\u015bciowe oznaczenie sk\u0142adu fazowego badanych pr\u00f3bek metod\u0105 dyfrakcji promieni rentgenowskich.<\/li>\n<li>Rentgenowska ilo\u015bciowa analiza fazowa musi by\u0107 poprzedzona analiz\u0105 jako\u015bciow\u0105). Oznaczanie struktur krystalicznych nowych zwi\u0105zk\u00f3w metod\u0105 Rietvelda (istot\u0105 metody Rietvelda jest opis ca\u0142ego widma XRD i zminimalizowanie, metod\u0105 najmniejszych kwadrat\u00f3w r\u00f3\u017cnicy pomi\u0119dzy widmem zmierzonym w eksperymencie a widmem wyliczonym na podstawie modelu strukturalnego).<\/li>\n<li>Wyznaczanie \u015bredniej wielko\u015bci krystalit\u00f3w substancji sta\u0142ych (\u015bredni rozmiar krystalit\u00f3w (rozmiar ziaren w substancji krystalicznej) mo\u017cna wyznaczy\u0107 metod\u0105 dyfrakcji w zakresie 3 &#8211; 100 nm. )<\/li>\n<li>Badanie tekstury cia\u0142 sta\u0142ych np. w blachach i drutach po operacjach walcowania, wyci\u0105gania itp.<\/li>\n<\/ul>\n<h3>Wysokorozdzielczy spektrometr Ramana z FTIR LabRam HR800 firmy Horiba Jobin Yvon<\/h3>\n<p>Spektroskopia w podczerwieni, jak r\u00f3wnie\u017c spektroskopia Ramana, wykorzystywana jest do identyfikacji zwi\u0105zk\u00f3w chemicznych, przeprowadzania analiz ilo\u015bciowych czy kontroli czysto\u015bci badanych pr\u00f3bek. Techniki te pozwalaj\u0105 okre\u015bli\u0107 rodzaje wi\u0105za\u0144 chemicznych a tak\u017ce s\u0105 pomocne przy ustalaniu struktury zwi\u0105zk\u00f3w oraz badaniu oddzia\u0142ywa\u0144 mi\u0119dzycz\u0105steczkowych. Obszary ich zastosowa\u0144 obejmuj\u0105 mi\u0119dzy innymi farmaceutyk\u0119, biotechnologi\u0119, medycyn\u0119, in\u017cynieri\u0119 materia\u0142ow\u0105, mineralogi\u0119, geologi\u0119, kryminalistyk\u0119, chemi\u0119 polimer\u00f3w, chemi\u0119 w\u0119gla, badania materia\u0142\u00f3w p\u00f3\u0142przewodnikowych.<\/p>\n<p>S\u0105 to metody nieinwazyjne, nieniszcz\u0105ce i w zasadzie nie wymagaj\u0105 specjalnego przygotowywania pr\u00f3bki. Du\u017ca czu\u0142o\u015b\u0107 metod i zastosowanie precyzyjnego uk\u0142adu pomiarowego umo\u017cliwiaj\u0105 wykonanie szczeg\u00f3\u0142owej analizy z ma\u0142ej ilo\u015bci pr\u00f3bnej.<\/p>\n<p>Otrzymywane w Laboratorium materia\u0142y z nanometrycznymi cz\u0105stkami metali (np. krzemionka z cz\u0105stkami srebra lub z\u0142ota) mog\u0105 pozwoli\u0107 na uzyskanie znacznego wzmocnienia intensywno\u015bci widma Ramana, kt\u00f3re zachodzi dzi\u0119ki adsorpcji badanej substancji na powierzchni metali (tzw. powierzchniowo wzmocniona spektroskopia Ramana, SERS &#8211; ang. <span style=\"font-style: italic;\">Surface Enhanced Raman Spectroscopy<\/span>). Uzyskuje si\u0119 przez to wyra\u017any sygna\u0142 tak\u017ce w przypadku niewielkich st\u0119\u017ce\u0144 substancji badanych.<\/p>\n<h3>Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) S-3400N firmy Hitachi<\/h3>\n<p>Skaningowy mikroskop elektronowy HITACHI S-3400N jest urz\u0105dzeniem przeznaczonym do badania morfologii powierzchni cia\u0142 sta\u0142ych w mikro- i nanoskali. Badane mog\u0105 by\u0107 r\u00f3\u017cnego rodzaju pr\u00f3bki m.in. geologiczne (ska\u0142y, rudy, minera\u0142y), \u015brodowiskowe (gleby, osady, odpady, produkty organiczne sta\u0142e), przemys\u0142owe (kamienie budowlane i drogowe, surowce przemys\u0142u: motoryzacyjnego, chemicznego, ceramicznego, hutniczego i szklarskiego), archeologiczne oraz biologiczne.<\/p>\n<p>Przyk\u0142adowe mo\u017cliwo\u015bci badawcze:<\/p>\n<ul>\n<li>materia\u0142oznawstwo &#8211; kontrola prawid\u0142owo\u015bci proces\u00f3w np. spiekania, uzyskiwanie obraz\u00f3w wtr\u0105ce\u0144, analiza wad- p\u0119kni\u0119cia, niejednorodno\u015bci, korozja, pomiary grubo\u015bci i jako\u015bci pow\u0142ok, identyfikacja pierwiastk\u00f3w pocz\u0105wszy od berylu, analiza pierwiastkowa z mikroobszar\u00f3w, bezwzorcowa analiza ilo\u015bciowa, mapy pierwiastkowe, przebiegi liniowe<\/li>\n<li>metalurgia &#8211; ocena struktury stop\u00f3w, proces\u00f3w uszlachetniania i obr\u00f3bki metali, wykrywanie wad wyrob\u00f3w<\/li>\n<li>odnik\u00f3w, pow\u0142ok galwanicznych<\/li>\n<li>geologia &#8211; identyfikacja faz mineralnych, mikroskamienia\u0142o\u015bci,<\/li>\n<li>kryminalistyka &#8211; identyfikacja pr\u00f3bek nieznanego pochodzenia w postaci mikro\u015blad\u00f3w gleb, lakier\u00f3w, w\u0142\u00f3kien itp.<\/li>\n<li>przemys\u0142 farmaceutyczny, medycyna, kosmetologia \u2013 badania sk\u0142adu chemicznego metod\u0105 dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego (EDS), okre\u015blanie sk\u0142adu chemicznego w mikroobszarach, wykrywanie wad wyrob\u00f3w<\/li>\n<li>biologia &#8211; obserwacja struktury powierzchniowej i przekroj\u00f3w ro\u015blin, zwierz\u0105t, grzyb\u00f3w oraz innych materia\u0142\u00f3w organicznych<\/li>\n<li>medycyna &#8211; implanty, materia\u0142y i elementy biomechaniczne<\/li>\n<\/ul>\n<p>Zalety mikroskopu S-3400N:<\/p>\n<ul>\n<li>mo\u017cliwo\u015b\u0107 obserwacji bez pracoch\u0142onnej preparatyki (tryb niskiej pr\u00f3\u017cni)<\/li>\n<li>du\u017ca komora preparatowa umo\u017cliwiaj\u0105ca prac\u0119 z du\u017cymi pr\u00f3bkami<\/li>\n<li>mo\u017cliwo\u015b\u0107 tworzenia rekonstrukcji pseodotr\u00f3jwymiarowych (3D image)<\/li>\n<\/ul>\n<p>Dodatkowe informacje:<br \/>\nSystem umo\u017cliwia r\u00f3wnie\u017c wykonanie mikroanalizy rentgenowskiej dla wielu typ\u00f3w aplikacji.<\/p>\n<h3>Mikroskop si\u0142 atomowych (AFM) XE-100 firmy Park Systems<\/h3>\n<p>Mikroskop Si\u0142 Atomowych (AFM) XE-100 nale\u017cy do grupy mikroskop\u00f3w ze skanuj\u0105c\u0105 sond\u0105 umo\u017cliwiaj\u0105cy uzyskanie 3-wymiarowej topografii powierzchni badanej pr\u00f3bki z rozdzielczo\u015bci\u0105 w skali nano dzi\u0119ki wykorzystaniu oddzia\u0142ywa\u0144 mi\u0119dzyatomowych pomi\u0119dzy sond\u0105 a powierzchni\u0105 badanej pr\u00f3bki. XE-100 przeznaczony jest do bada\u0144 ma\u0142ych i \u015brednich pr\u00f3bek w stanie litym z maksymalnym zakresem skanowania nie wi\u0119kszym ni\u017c 50 \u00b5m. Mikroskop AFM umo\u017cliwia badanie powierzchni przewodnik\u00f3w, p\u00f3\u0142przewodnik\u00f3w i izolator\u00f3w. Mo\u017cliwe jest tak\u017ce badanie organizm\u00f3w biologicznych.<\/p>\n<p>W zale\u017cno\u015bci od rodzaju badanego materia\u0142u konfiguracja mikroskopu XE-100 pozwala na prac\u0119 w nast\u0119puj\u0105cych modach:<\/p>\n<ul>\n<li><span style=\"font-weight: bold;\">Mod kontaktowy<\/span> (Contact AFM): kontaktowe odzwierciedlenie topografii pr\u00f3bki w wyniku przesuwania si\u0119 ig\u0142y pomiarowej po powierzchni badanej pr\u00f3bki. Ig\u0142a ca\u0142y czas pozostaje w delikatnym kontakcie z badan\u0105 powierzchni\u0105. Odkszta\u0142cenie po\u0142o\u017cenia d\u017awigienki zwi\u0105zane jest z proporcjonalnymi zmianami topografii pr\u00f3bki.<\/li>\n<li><span style=\"font-weight: bold;\">Mod bezkontaktowy<\/span> (True Non-Contact AFM): odwzorowanie topografii powierzchni za pomoc\u0105 oscylacyjnego ruchu ig\u0142y z cz\u0119stotliwo\u015bci\u0105 blisk\u0105 cz\u0119stotliwo\u015bci rezonansowej i amplitudzie kilku nanometr\u00f3w.<\/li>\n<li><span style=\"font-weight: bold;\">Mod przerywanego kontaktu<\/span> (Dynamic Force Microscopy): po\u0142\u0105czenie modu kontaktowego z bezkontaktowym do analizy topografii powierzchni.<\/li>\n<\/ul>\n<p>Uniwersalna g\u0142owica mikroskopu XE-100 umo\u017cliwia prac\u0119 w nast\u0119puj\u0105cych trybach:<\/p>\n<ul>\n<li><span style=\"font-weight: bold;\">Mikroskop Si\u0142 Poprzecznych<\/span> \u2013 LFM (Lateral Force Microscopy): tworzenie obrazu powierzchni poprzez obserwacje zmiany wychylenia poprzecznego (skr\u0119cenia) ig\u0142y pomiarowej. Mikroskop ten s\u0142u\u017cy do obrazowania zmian w tarciu powierzchniowym.<\/li>\n<li><span style=\"font-weight: bold;\">Skaningowy Mikroskop Tunelowy<\/span> \u2013 STM (Scanning Tunneling Microskopy): badania powierzchni z wykorzystaniem zjawiska tunelowania opisuj\u0105cego pr\u0105d p\u0142yn\u0105cy pomi\u0119dzy pr\u00f3bk\u0105 a ig\u0142\u0105 przesuwaj\u0105c\u0105 si\u0119 tu\u017c nad jej powierzchni\u0105. Przy pomocy mikroskopu STM mo\u017cliwe jest badanie elektronowych w\u0142asno\u015bci materia\u0142\u00f3w przewodz\u0105cych z atomow\u0105 rozdzielczo\u015bci\u0105.<\/li>\n<li><span style=\"font-weight: bold;\">Mikroskop Si\u0142 Magnetycznych<\/span> \u2013 MFM (Magnetic Force Microscopy): pomiar topografii i w\u0142a\u015bciwo\u015bci magnetycznych powierzchni pr\u00f3bki. Ig\u0142a pokrywa warstw\u0105 ferromagnetyka wibruje blisko powierzchni pr\u00f3bki w wyniku czego rejestrowane s\u0105 zmiany namagnesowania badanej powierzchni (badania m.in. struktur domen magnetycznych, g\u0142owic i no\u015bnik\u00f3w magnetycznych)<\/li>\n<li><span style=\"font-weight: bold;\">Mikroskop Si\u0142 Elektrostatycznych<\/span> \u2013 EFM (Electrostatic Force Microscopy): pomiar zmiany amplitudy ig\u0142y pomiarowej posiadaj\u0105cej \u0142adunek elektryczny wprawionej w drgania z cz\u0119stotliwo\u015bci\u0105 zbli\u017con\u0105 do cz\u0119stotliwo\u015bci rezonansowej. W wyniku pomiaru uzyskuje si\u0119 przestrzenny rozk\u0142ad \u0142adunku elektrycznego zgromadzonego na powierzchni badanej pr\u00f3bki.<\/li>\n<li><span style=\"font-weight: bold;\">Mikroskop z Modulacj\u0105 Si\u0142y<\/span> \u2013 FMM (Force Modulation Microscopy): Skanuj\u0105ca sonda pozostaje w ci\u0105g\u0142ym kontakcie z badan\u0105 powierzchni\u0105 w wyniku czego opr\u00f3cz tradycyjnego obrazu topografii otrzymujemy informacje na temat w\u0142asno\u015bci mechanicznych badanej pr\u00f3bki.<\/li>\n<\/ul>\n<h3>Dwuwi\u0105zkowy spektrofotometr absorpcyjny UV\/VIS Evolution 100 firmy Thermo<\/h3>\n<p>Spektrofotometr UV-VIS Nicolet Evolution 100 jest wysokiej klasy, dwuwi\u0105zkowym spektrofotometrem s\u0142u\u017c\u0105cy do badania absorpcji promieniowania elektromagnetycznego w nadfiolecie i zakresie widzialnym widma. Aparat s\u0142u\u017cy do pomiaru pr\u00f3bek ciek\u0142ych.<\/p>\n<p>Spektrofotometr umo\u017cliwia prac\u0119 w trybie:<\/p>\n<ul>\n<li>SCAN \u2013 aplikacja ta s\u0142u\u017cy do zapisywania i obr\u00f3bki widm w wybranym zakresie d\u0142ugo\u015bci fali. Maksymalny zakres d\u0142ugo\u015bci fali dla tego spektrofotometru wynosi 190-1100 nm.<\/li>\n<li>RATE \u2013 aplikacj\u0119 t\u0119 wykorzystuje si\u0119 do zapisywania zmian absorbancji pr\u00f3bki zale\u017cnych od czasu przy okre\u015blonej d\u0142ugo\u015bci fali.<\/li>\n<li>FIXED \u2013 aplikacja ta jest u\u017cywana do zapisywania absorpcji pr\u00f3bki przy pojedynczych d\u0142ugo\u015bciach fali. Mo\u017cliwe jest tutaj ustawienie op\u00f3\u017anienia pocz\u0105tkowego oraz liczby pomiar\u00f3w powtarzanych i czas przerwy pomi\u0119dzy nimi.<\/li>\n<li>QUANT \u2013 aplikacja ta umo\u017cliwia ilo\u015bciowe okre\u015blanie sk\u0142adnik\u00f3w zgodnie z prawem Beer\u2019a. Procedura ta pozwala na utworzenie funkcji kalibracji i wykorzystywanie jej do pomiar\u00f3w.<\/li>\n<\/ul>\n<h3>Spektrofotometr emisyjny z uk\u0142adem do pomiar\u00f3w czas\u00f3w \u017cycia FluoroMax-4 firmy Horiba Jobin Yvon<\/h3>\n<p>Spektrofluorymeter FluoroMax-4 jest to w pe\u0142ni zautomatyzowany system spektrofluorometryczny. Podczas pomiaru fluorescencji mog\u0105 by\u0107 skanowane nast\u0119puj\u0105ce parametry: d\u0142ugo\u015b\u0107 fali wzbudzenia, d\u0142ugo\u015b\u0107 fali emisji lub obydwie te d\u0142ugo\u015bci fali.<\/p>\n<p>Spektrofluorymeter pozwala rejestrowa\u0107 widma emisyjne i wzbudzeniowe nast\u0119puj\u0105cych pr\u00f3bek:<\/p>\n<ul>\n<li>ciecze (fluoro- i fosforencyjne roztwory)<\/li>\n<li>cia\u0142a sta\u0142e (cienkie warstwy, minera\u0142y, kryszta\u0142y, proszki fluorescencyjne)<\/li>\n<li>materia\u0142y biologiczne (roztwory zawieraj\u0105ce proteiny, b\u0142ony kom\u00f3rkowe, kom\u00f3rki)<\/li>\n<li>materia\u0142y silnie nieprze\u017aroczyste<\/li>\n<\/ul>\n<p>Spektrofluorymeter umo\u017cliwia:<\/p>\n<ul>\n<li>pomiar pr\u00f3bek o nieznanej charakterystyce widmowej<\/li>\n<li>pomiar pr\u00f3bek o bardzo ma\u0142ych obj\u0119to\u015bciach<\/li>\n<li>detekcj\u0119 \u015bladowych ilo\u015bci substancji i pr\u00f3bek biologicznych<\/li>\n<li>pomiary czas\u00f3w \u017cycia elektronowych stan\u00f3w wzbudzonych.<\/li>\n<\/ul>\n<h3>Spektrofluorymetr z mikroskopem konfokalnym Fluorolog-3 firmy Horiba Jobin Yvon<\/h3>\n<p>Spektrofluorymetr Fluorolog-3 jest systemem zaprojektowanym do rutynowych pomiar\u00f3w fluorescencyjnych. Uk\u0142ad posiada komputerowe sterowanie pomiarem i analiz\u0105 danych.<\/p>\n<p>Spektrofluorymetr pozwala na rejestracj\u0119 widm emisyjnych i wzbudzeniowych pr\u00f3bek:<\/p>\n<ul>\n<li>ciecze (fluoro- i fosforencyjne roztwory).<\/li>\n<li>cia\u0142a sta\u0142e (cienkie warstwy, minera\u0142y, kryszta\u0142y, proszki fluorescencyjne, itp).<\/li>\n<li>materia\u0142y biologiczne (roztwory zawieraj\u0105ce proteiny, b\u0142ony kom\u00f3rkowe, kom\u00f3rki)<\/li>\n<li>materia\u0142y silnie nieprze\u017aroczyste<\/li>\n<\/ul>\n<p>Spektrofluorymetr umo\u017cliwia:<\/p>\n<ul>\n<li>pomiar pr\u00f3bek o nieznanej charakterystyce widmowej<\/li>\n<li>pomiar pr\u00f3bek o bardzo ma\u0142ych obj\u0119to\u015bciach<\/li>\n<li>detekcj\u0119 \u015bladowych ilo\u015bci substancji i pr\u00f3bek biologicznych<\/li>\n<li>detekcj\u0119 z pr\u00f3bek silnie rozpraszaj\u0105cych<\/li>\n<li>charakteryzacj\u0119 mieszanin z\u0142o\u017conych<\/li>\n<li>dzia\u0142anie w obszarze IR<\/li>\n<li>wyb\u00f3r pomi\u0119dzy detekcj\u0105 prostopad\u0142\u0105 (pomiar roztwor\u00f3w) a czo\u0142ow\u0105 (pomiar cia\u0142 sta\u0142ych, pr\u00f3bek m\u0119tnych lub silnie absorbuj\u0105cych)<\/li>\n<li>monitorowanie kinetyki reakcji przy u\u017cyciu fluorescencji rozdzielonej w czasie<\/li>\n<li>bezpo\u015bredni\u0105 obserwacj\u0119 analizowanych pr\u00f3bek i rejestracja komputerowa wysokiej rozdzielczo\u015bci cyfrowych obraz\u00f3w (przystawka \u2013 mikroskop konfokalny)<\/li>\n<li>przedstawienie tr\u00f3jwymiarowych map rozk\u0142adu r\u00f3\u017cnych substancji o w\u0142a\u015bciwo\u015bciach fluorescencyjnych w ca\u0142ej obj\u0119to\u015bci badanej pr\u00f3bki (mapping).<\/li>\n<\/ul>\n<h3>Inne<\/h3>\n<p>Laboratorium Materia\u0142\u00f3w Zol-\u017belowych i Nanotechnologii Dolno\u015bl\u0105skiego Centrum Zaawansowanych Technologii posiada tak\u017ce:<\/p>\n<ul>\n<li>Generator gaz\u00f3w firmy Horiba (do badania czujnik\u00f3w)<\/li>\n<li>Uniwersalny miernik LCR firmy Agilent Technologies.<\/li>\n<\/ul>\n<ul class=\"list-pages-shortcode sibling-pages\"><li class=\"page_item page-item-1534\"><a href=\"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/instytut-materialoznawstwa-i-mechaniki-technicznej\/badania-naukowe\/laboratoria\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-dczt\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-wyposazenie\/\">Laboratorium Materia\u0142\u00f3w Zol-\u017belowych i Nanotechnologii &#8212;  Wyposa\u017cenie<\/a><\/li>\n<li class=\"page_item page-item-1533\"><a href=\"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/instytut-materialoznawstwa-i-mechaniki-technicznej\/badania-naukowe\/laboratoria\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-dczt\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-charakterystyka\/\">Laboratorium Materia\u0142\u00f3w Zol-\u017belowych i Nanotechnologii &#8212; Charakterystyka<\/a><\/li>\n<li class=\"page_item page-item-1535\"><a href=\"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/instytut-materialoznawstwa-i-mechaniki-technicznej\/badania-naukowe\/laboratoria\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-dczt\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-oferta\/\">Laboratorium Materia\u0142\u00f3w Zol-\u017belowych i Nanotechnologii &#8212; Oferta<\/a><\/li>\n<\/ul>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>System do pomiaru porowato\u015bci ASAP 2020 firmy Micromeritics System do pomiaru porowato\u015bci ASAP 2020 umo\u017cliwia przeprowadzenie pomiar\u00f3w powi\u0105zanych z porowato\u015bci\u0105 charakterystyk, takich materia\u0142\u00f3w jak proszki oraz cia\u0142a sta\u0142e. Aparat ASAP 2020 umo\u017cliwia pomiar: dyspersji krystalit\u00f3w metali; wielko\u015b\u0107 powierzchni aktywnej metali; rozmiar cz\u0105stek aktywnych; kwasowo\u015b\u0107 powierzchni materia\u0142\u00f3w katalitycznych Dost\u0119pne opcje: Opcja mikropor\u00f3w &#8211; dostarcza dane na &hellip; <a href=\"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/instytut-materialoznawstwa-i-mechaniki-technicznej\/badania-naukowe\/laboratoria\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-dczt\/laboratorium-materialow-zol-zelowych-i-nanotechnologii-oferta\/\" class=\"more-link\">Czytaj dalej <span class=\"screen-reader-text\">Laboratorium Materia\u0142\u00f3w Zol-\u017belowych i Nanotechnologii &#8212; Oferta<\/span> <span class=\"meta-nav\">&rarr;<\/span><\/a><\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"parent":1440,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"open","template":"","meta":{"ngg_post_thumbnail":0,"footnotes":""},"class_list":["post-1535","page","type-page","status-publish","hentry"],"publishpress_future_action":{"enabled":false,"date":"2026-04-22 23:18:48","action":"change-status","newStatus":"draft","terms":[],"taxonomy":"language","extraData":[]},"publishpress_future_workflow_manual_trigger":{"enabledWorkflows":[]},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/1535","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1535"}],"version-history":[{"count":3,"href":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/1535\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":2093,"href":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/1535\/revisions\/2093"}],"up":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/1440"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/kmim.wm.pwr.edu.pl\/immt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1535"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}