Dyfraktometr rentgenowski ULTIMA IV/Rigaku/2008

Krótka charakterystyka

Wielofunkcyjny, automatyczny dyfraktometr proszkowy pracujący z lampą miedziową, wyposażony jest w system optyki CBO (Cross Beam Optics), opatentowany przez firmę Rigaku. Justowanie optyki, niezależnie od aplikacji odbywa się automatycznie przy użyciu siedmiu napędów sterowanych z komputera. Ultima IV jest wyposażona w goniometr theta/theta o promieniu 285mm i minimalnym kroku 0,0001 stopnia. Unikalna optyka CBO pozwala na szybką zmianę aplikacji dyfraktometru poprzez szybką zmian optyki z ogniskującej na równoległą.

Możliwości badawcze

  • Pomiar stałej sieciowej – wyznaczenie parametrów sieci struktury krystalicznej badanych próbek metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich. Badanie między innymi zmian strukturalnych w roztworach stałych.
  • Jakościowa analiza fazowa – przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest identyfikacja składu fazowego metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich. Wynik analizy zawiera opis zidentyfikowanych faz krystalicznych oraz dyfraktogram zestawiony z modelami dyfraktogramów zidentyfikowanych faz uzyskanymi z dostępnych baz danych struktur krystalicznych.
  • Ilościowa analiza fazowa – przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest ilościowe oznaczenie składu fazowego badanych próbek metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich. Rentgenowska ilościowa analiza fazowa musi być poprzedzona
    analizą jakościową.
  • Oznaczanie struktur krystalicznych nowych związków metodą Rietvelda (istotą metody Rietvelda jest opis całego widma XRD i zminimalizowanie, metodą najmniejszych kwadratów różnicy pomiędzy widmem zmierzonym w eksperymencie a widmem wyliczonym na podstawie modelu strukturalnego).
  • Wyznaczanie średniej wielkości krystalitów substancji stałych (średni rozmiar krystalitów (rozmiar ziaren w substancji krystalicznej) można wyznaczyć metodądyfrakcji w zakresie 3 – 100 nm).
  • Badanie tekstury ciał stałych np. w blachach i drutach po operacjach walcowania, wyciągania itp.

Wymagania dotyczące próbek
Próbki proszkowe, cienkie warstwy.

Analiza danych
Baza danych struktur krystalicznych.

 

Osoba do kontaktu:                                                                                                         dr Agnieszka Baszczuk,                                                                                            tel.: 71 320 32 21,                                                                                                                   email: agnieszka.baszczuk@pwr.edu.pl