Skaningowy mikroskop elektronowy SEM/ HITACHI S-3400N/ 2007

Skaningowy mikroskop elektronowy HITACHI S-3400N jest urządzeniem przeznaczonym do badania morfologii powierzchni ciał stałych w mikro- i nanoskali. Umożliwia on uzyskiwanie obrazów elektronowych powierzchni próbek o rozdzielczości 3 nm przy napięciu 30 kV. Zakres możliwych powiększeń wynosi 5 do 300 000 razy. Dzięki możliwości pracy w trybie niskiej próżni możliwa jest obserwacja preparatów nieprzewodzących bez konieczności pokrywania ich warstwą metaliczną. Mikroskop dodatkowo wyposażony jest w mikroanalizator rentgenowski EDS umożliwiający jakościowy i ilościowy pomiar pierwiastków w badanych próbkach.

Komora robocza mikroskopu ma średnicę wewnętrzną 215 mm co umożliwia obserwacje stosunkowo dużych obiektów. Uzyskiwane powiększenie wynosi 5x – 300 000x, napięcie przyśpieszające 0.3kV – 30kV.

Wymagania dotyczące próbek
Przy zastosowaniu mikroskopu skaningowego można przeprowadzać obserwację powierzchni preparatów przewodzących elektrycznie i nieprzewodzących po pokryciu ich warstwą metaliczną lub bez takiego pokrycia.

Osoba do kontaktu:                                                                                                         dr Marek Jasiorski                                                                                                        tel.: 71 320 32 21,                                                                                                                 email: marek.jasiorski@pwr.edu.pl