Krótka charakterystyka

Wielofunkcyjny, automatyczny dyfraktometr proszkowy pracujący z lampą miedziową, wyposażony w system optyki CBO (Cross Beam Optics), opatentowany przez firmę Rigaku. Justowanie optyki, odbywa się automatycznie przy użyciu siedmiu napędów sterowanych z komputera. Ultima IV jest wyposażona w goniometr theta/theta o promieniu 285 mm i minimalnym kroku 0,0001 stopnia. Unikalna optyka CBO pozwala na szybką zmianę aplikacji dyfraktometru poprzez szybką zmian optyki z ogniskującej na równoległą.

Możliwości badawcze

• Określenie struktury krystalicznej – wyznaczenie parametrów sieci struktury krystalicznej badanych próbek metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich. Badanie między innymi zmian strukturalnych w roztworach stałych.
• Jakościowa analiza fazowa – przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest identyfikacja składu fazowego. Wynik analizy zawiera opis zidentyfikowanych faz krystalicznych oraz dyfraktogram, zestawiony z modelami dyfraktogramów zidentyfikowanych faz, uzyskanymi z dostępnych baz danych struktur krystalicznych.
• Ilościowa analiza fazowa – przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest ilościowe oznaczenie składu fazowego badanych próbek. Rentgenowska ilościowa analiza fazowa musi być poprzedzona analizą jakościową.
• Wyznaczenie struktur krystalicznych nowych związków metodą Rietvelda – istotą metody jest opis całego dyfraktogramu i zminimalizowanie, metodą najmniejszych kwadratów różnicy pomiędzy dyfraktogramem zmierzonym w eksperymencie a wyliczonym na podstawie modelu strukturalnego.
• Wyznaczanie średniej wielkości krystalitów substancji stałych – średni rozmiar krystalitów (można wyznaczyć metodą dyfrakcji  w zakresie 3 – 100 nm.
• Badanie tekstury ciał stałych np. w blachach i drutach po operacjach walcowania, wyciągania itp.

Wymagania dotyczące próbek

Próbki proszkowe. Próbki objętościowe o niewielkich rozmiarach.

Osoba kontaktowa

dr hab. Agnieszka Baszczuk, prof. uczelni
🚪 B1/601
📞 +48 71 320 32 21
✉️ agnieszka.baszczuk@pwr.edu.pl

Przykładowe dyfraktogramy

Structural and physical properties of Re substituted B-site ordered and disordered SrCo1−xRexO3−δ (x=0.1, 0.25, 0.5)

Zdjęcie 2 z 5

Room temperature X-ray diffraction patterns of the samples obtained from several annealing conditions: (a) Ar 1090+Ox 400, (b) Ar 1090, (c) Air 1200 slow cool, (d) Air 1200 fast cool, and (e) Air 1200 fast cool+Ox 500. The reflection indices for the double cubic cell are shown. see full article