Krótka charakterystyka

Wielofunkcyjny, automatyczny dyfraktometr proszkowy pracujący z lampą miedziową, wyposażony w system optyki CBO (Cross Beam Optics), opatentowany przez firmę Rigaku. Justowanie optyki, odbywa się automatycznie przy użyciu siedmiu napędów sterowanych z komputera. Ultima IV jest wyposażona w goniometr theta/theta o promieniu 285 mm i minimalnym kroku 0,0001 stopnia. Unikalna optyka CBO pozwala na szybką zmianę aplikacji dyfraktometru poprzez szybką zmian optyki z ogniskującej na równoległą.

Możliwości badawcze

• Określenie struktury krystalicznej – wyznaczenie parametrów sieci struktury krystalicznej badanych próbek metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich. Badanie między innymi zmian strukturalnych w roztworach stałych.
• Jakościowa analiza fazowa – przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest identyfikacja składu fazowego. Wynik analizy zawiera opis zidentyfikowanych faz krystalicznych oraz dyfraktogram, zestawiony z modelami dyfraktogramów zidentyfikowanych faz, uzyskanymi z dostępnych baz danych struktur krystalicznych.
• Ilościowa analiza fazowa – przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest ilościowe oznaczenie składu fazowego badanych próbek. Rentgenowska ilościowa analiza fazowa musi być poprzedzona analizą jakościową.
• Wyznaczenie struktur krystalicznych nowych związków metodą Rietvelda – istotą metody jest opis całego dyfraktogramu i zminimalizowanie, metodą najmniejszych kwadratów różnicy pomiędzy dyfraktogramem zmierzonym w eksperymencie a wyliczonym na podstawie modelu strukturalnego.
• Wyznaczanie średniej wielkości krystalitów substancji stałych – średni rozmiar krystalitów (można wyznaczyć metodą dyfrakcji  w zakresie 3 – 100 nm.
• Badanie tekstury ciał stałych np. w blachach i drutach po operacjach walcowania, wyciągania itp.

Wymagania dotyczące próbek

Próbki proszkowe. Próbki objętościowe o niewielkich rozmiarach.

Osoba kontaktowa

dr hab. Agnieszka Baszczuk, prof. uczelni
🚪 B1/601
📞 +48 71 320 32 21
✉️ agnieszka.baszczuk@pwr.edu.pl

Przykładowe dyfraktogramy

Low pressure cold spraying of TiO2 on acrylonitrile butadiene styrene (ABS)

Zdjęcie 5 z 5

XRD diffraction patterns obtained for coatings formed by spraying (a) anatase powder, (b) amorphous powder, and (c) amorphous-anatase powders mixture on ABS substrate (green plots) without substrate pretreatment and (red plots) with substrate pretreatment being grit-blasting with (light plots) Dymet's powder feeder – air preheated to 200 °C and (dark plots) Palas's powder feeder – air preheated to 300 °C. Additionally, the measured diffraction pattern of the substrate (letter S, blue plot) and anatase pattern from ICSD [53] (letter A, black plot) is shown in Fig. 10a. (For interpretation of the references to colour in this figure legend, the reader is referred to the web version of this article.) see full article