Zastosowanie skaningowego mikroskopu elektronowego ze skupioną wiązką jonów w ocenie funkcjonalnych powłok ditlenku tytanu

by Jakub Grzesiak, Jakub Kolankowski, Anna Donesz-Sikorska
Reference:
Zastosowanie skaningowego mikroskopu elektronowego ze skupioną wiązką jonów w ocenie funkcjonalnych powłok ditlenku tytanu (Jakub Grzesiak, Jakub Kolankowski, Anna Donesz-Sikorska), In Przemysł Chemiczny, volume 94, 2015.
Bibtex Entry:
@Article{	  Grzesiak2015,
  author	= {Grzesiak, Jakub and Kolankowski, Jakub and Donesz-Sikorska, Anna},
  title		= {Zastosowanie skaningowego mikroskopu elektronowego ze skupioną wiązką jonów w ocenie funkcjonalnych powłok ditlenku tytanu},
  journal	= {Przemysł Chemiczny},
  year		= {2015},
  volume	= {94},
  number	= {7},
  pages		= {1130-1133},
  doi		= {10.15199/62.2015.7.11},
  keywords	= {powłoka tlenkowa, metoda zol-żel, FIB-SEM, TiO2, materiały funkcjonalne}
}