by Jakub Grzesiak, Jakub Kolankowski, Anna Donesz-Sikorska
Reference:
Zastosowanie skaningowego mikroskopu elektronowego ze skupioną wiązką jonów w ocenie funkcjonalnych powłok ditlenku tytanu (Jakub Grzesiak, Jakub Kolankowski, Anna Donesz-Sikorska), In Przemysł Chemiczny, volume 94, 2015.
Bibtex Entry:
@Article{ Grzesiak2015, author = {Grzesiak, Jakub and Kolankowski, Jakub and Donesz-Sikorska, Anna}, title = {Zastosowanie skaningowego mikroskopu elektronowego ze skupioną wiązką jonów w ocenie funkcjonalnych powłok ditlenku tytanu}, journal = {Przemysł Chemiczny}, year = {2015}, volume = {94}, number = {7}, pages = {1130-1133}, doi = {10.15199/62.2015.7.11}, keywords = {powłoka tlenkowa, metoda zol-żel, FIB-SEM, TiO2, materiały funkcjonalne} }