Materiały, struktury i techniki pomiarowe dla półprzewodnikowej optoelektroniki zintegrowanej

Termin: 20 maja 2004r. (czwartek) godz.10:15,

Miejsce: sala 117, B-1

Referują: dr hab. inż. Sergiusz Patela, mgr inż. Rafał Dylewicz Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki PWr.