Centrum Doskonałości "Sol-Gel Materials and Nanotechnology" zaprasza na wykład "Metrologia mikro- i nanostruktur, który wygłosi dr inż. Teodor Gotszalk (Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki PWr) w dniu 27 października 2004, o godzinie 10:15 w sali 117 B1.