Centrum Doskonałości "Sol-Gel Materials and Nanotechnology" zaprasza na wykład "Metrologia mikro- i nanostruktur, który wygłosi dr inż. Teodor Gotszalk (Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki PWr) w dniu 27 października 2004, o godzinie 10:15 w sali 117 B1.
Archiwum kategorii: Seminarium Inżynierii Materiałowej
Wprowadzenie w zagadnienia spektroskopii impedancyjnej
Termin: 20 października 2004, 9:15
Miejsce: 117 B1
Prelegent: dr inż. Karol Nitsch, prof. nadzw. PWr
Development and Characterization of Sputter Deposited Nanostructured Thin Films
Termin: 26 maja 2004r. godz.10:15,
Miejsce: sala 117, B-1
Referuje: Dr. Wilbur L. Walters Jr Jackson State University, Jackson MS, USA
Materiały, struktury i techniki pomiarowe dla półprzewodnikowej optoelektroniki zintegrowanej
Termin: 20 maja 2004r. (czwartek) godz.10:15,
Miejsce: sala 117, B-1
Referują: dr hab. inż. Sergiusz Patela, mgr inż. Rafał Dylewicz Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki PWr.
Nanokrystaliczny GAN jako nowa alternatywna forma tego materiału
Termin: 12 maja 2004r. godz.10:15,
Miejsce: sala 117, B-1
Referuje: mgr inż. Marcin Nyk
Photocrystallography
Termin: 05 maja 2004r. godz.10:15,
Miejsce: sala 117, B-1
Referuje: mgr Elżbieta Trzop
Inorganic and Organic/Carbon Aerogels
Termin: 28 kwietnia 2004r. godz.1015,
Miejsce: sala 117, B-1
Referuje: mgr inż. Krzysztof Brodzik
Synteza i własności luminescencyjne nanokrystalitów Tb:Yag
Termin: 21 kwietnia 2004 r. godz.10:15
Miejsce: sala 117, B-1
Prelegent: mgr Piotr Mazur
Biodegradable composites
Termin: 14 kwietnia 2004, godz 10:15
Miejsce: 117 B1
Prelegent: mgr inz. Andrzej Iwańczuk
Goettfert Rheotens Melt Tensile Tester
Termin: 7 kwietnia 2004, godz 10:15
Miejsce: 117 B1
Prelegent: mgr inz. Stanislaw Frackowiak